Cel szkolenia
SPC i MSA z Excelem
Szkolenie pokazuje możliwości zastosowania w przedsiębiorstwie metod statystycznego sterowania procesami, czyli kontroli procesów za pomocą narzędzi statystycznych oraz analizy systemów pomiarowych MSA. Uczestnicy dowiadują się, jak oceniać zdolność procesu za pomocą współczynników, monitorować proces używając kart kontrolnych Shewharta, obserwować prawidłowość przebiegu procesu oraz jego odchylenia od standardu – względem granic specyfikacji. Dowiadują się, jak oceniać systemy pomiarowe i sprawować nad nimi nadzór. Nabywają także umiejętność przeprowadzania testu R&R, pozwalającego sprawdzić powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego.
Szkolenie prowadzone jest z wykorzystaniem arkusza kalkulacyjnego Excel, dzięki czemu uczestnicy tworzą i otrzymują gotowe narzędzia do dalszej pracy.
Korzyści ze szkolenia
- Poznanie metodologii SPC i MSA oraz umiejętność zastosowania ich w praktyce.
- Umiejętność oceny zdolności procesu oraz oceny systemu pomiarowego.
- Umiejętność interpretacji uzyskanych wyników.
- Umiejętność monitorowania procesu za pomocą kart kontrolnych.
- Umiejętność badania powtarzalności i odtwarzalności.
- Umiejętność praktycznego zastosowania MSA w przedsiębiorstwie.
- Umiejętność wykorzystania arkusza kalkulacyjnego Excel w SPC i MSA.
Profil uczestników
Pracownicy działów jakości, produkcji, inżynierowie jakości, produkcji, procesów, kierownicy, brygadziści, liderzy, mistrzowie oraz wszystkie osoby, zainteresowane tematyką SPC i MSA.
Warsztaty i ćwiczenia
Ćwiczenia wykonywane w arkuszu kalkulacyjnym Excel, dzięki czemu uczestnicy tworzą i otrzymują gotowe narzędzia do dalszej pracy:
- tworzenie kart kontrolnych,
- interpretacja wyników,
- wyznaczanie wskaźników zdolności procesu,
- R&R, bias, Kappa
Program szkolenia
SPC i MSA z Excelem
Statystyczne sterowanie procesem (SPC)
- SPC a współczesne systemy zarządzania jakością – rola i znaczenie
- Zmienność procesów i ich tolerancja – wpływ na parametry wyrobów
- Pojęcia procesu stabilnego i rozregulowanego
- Typy danych – dane mierzalne i atrybutywne
- Podstawowe statystyki w SPC – statystyczny opis tendencji centralnej i zmienności procesu oraz metody prezentacji graficznej zmienności (box-whisker, histogram, scatterplot, itp.):
– podstawowe statystyki w SPC – ćwiczenia - Rozkłady statystyczne – analiza rozkładu normalnego, badanie normalności rozkładu:
– rozkłady statystyczne – ćwiczenia - Zdolność procesu:
– badanie zdolności procesu i maszyn,
– wskaźniki Cm, Cmk, Cp, Cpk, Pp, Ppk,
– wyznaczanie wskaźników i ich interpretacja,
– zdolność procesu a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji (ppm) - Karty kontrolne:
– zasady funkcjonowania,
– konstrukcja kart kontrolnych - Typy kart kontrolnych (dla cech mierzalnych i atrybutywnych):
– zastosowanie kart kontrolnych: (karta X – średnie i R,
karta X – średnie i S, karta mediany i rozstępu, karta pojedynczych obserwacji, karta ruchomego rozstępu i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p), liczby niezgodności (c), liczby niezgodności na jednostkę (u)) - Dobór kart kontrolnych – metody próbkowania (wielkość i częstość)
- Interpretacja uzyskanych, za pomocą kart kontrolnych, wyników (sygnały, sekwencje punktów, strefy).
- Zasady obliczania współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych
- Analiza wybranych przypadków klasycznych i szczególnych sytuacji w procesie
- Zasady wdrażania metod SPC
Analiza Systemów Pomiarowych (MSA)
- Wprowadzenie do MSA:
– znaczenie danych,
– zmienne pomiarowe,
– skale pomiarowe - Wpływ systemu pomiarowego na obserwowaną zmienność procesu – niedokładność pomiarów i zmienność w procesach
- Przygotowanie systemu zbierania danych i planu pomiaru
- Błędy pomiaru:
– bias,
– liniowość,
– stabilność,
– powtarzalność,
– odtwarzalność,
– wyznaczanie innych wskaźników dla systemu pomiarowego - Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego:
– Gage R&R dla cech mierzalnych,
– Gage R&R dla cech atrybutywnych - Zdolność urządzenia pomiarowego – wskaźniki Cg i Cgk
- Sposoby doskonalenia systemu pomiarowego
CERTYFIKAT
Rejestrowany Certyfikat LQcert potwierdzający zdobyte kompetencje w zakresie SPC Statystycznego Sterowania Procesem i MSA Analizy Systemów Pomiarowych wydawany przez Lynsky Solutions.
FORMA SZKOLENIA
Warsztatowa: połączenie zajęć teoretycznych oraz licznych ćwiczeń praktycznych. Wykorzystanie arkusza kalkulacyjnego Excel.
CZAS TRWANIA SZKOLENIA
24 godziny – 3 dni po 8 godzin
TRENER
To szkolenie poprowadzi trener Radek lub Marcin. Sprawdź ich doświadczenie tutaj: Specjaliści Lynsky Solutions
NASZYCH KLIENTÓW ZAINTERESOWAŁY TAKŻE SZKOLENIA
Automotive Expert
Problem Solving Team…
Certyfikowany Menedżer Jakości
FMEA procesu w praktyce
Szkolenie wprowadzające –…
